我們的受激發(fā)射損耗（STED）技術(shù)與STELLARIS共聚焦平臺(tái)相結(jié)合，為您提供超越衍射極限的快速成像方法。以令人驚嘆的圖像質(zhì)量和分辨率迅速獲得納米顯微成像，同時(shí)還保護(hù)您的樣本。STED超高分辨率顯微技術(shù)允許您同時(shí)研究多個(gè)動(dòng)態(tài)事件，因此您可以在細(xì)胞環(huán)境中探索分子關(guān)系和機(jī)制。

STED和STELLARIS平臺(tái)無(wú)縫集成，您可以直接通過(guò)共聚焦界面輕松使用 STED。只需點(diǎn)擊幾下，您就可以從樣本中獲得更豐富的信息，因?yàn)槊恳粋€(gè)細(xì)節(jié)都很重要。

TauSTED Xtend代表了STED成像技術(shù)的下一步演進(jìn)。它將基于壽命的信息與額外的空間信息相結(jié)合， 可顯著提高分辨率，尤其是在較低的STED損耗光強(qiáng)下，因而能在令人矚目的納米尺度上擴(kuò)展多色實(shí)時(shí)成像能力。

能力

在納米尺度上解析結(jié)構(gòu)中的更小細(xì)節(jié)。以更高的分辨率進(jìn)行更長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)時(shí)成像。

潛力

使用標(biāo)準(zhǔn)熒光團(tuán)，按照您喜歡的STED實(shí)驗(yàn)方法進(jìn)行操作。即使使用單條STED激光譜線，也可進(jìn)行擴(kuò)展多色成像。

生產(chǎn)力

直接以納米尺度的分辨率監(jiān)測(cè)快速過(guò)程。在實(shí)驗(yàn)進(jìn)行中即時(shí)獲得關(guān)于結(jié)果的反饋。

在納米尺度上解析樣本中的更小細(xì)節(jié)

您是否正在尋找超高分辨率策略，以便在時(shí)間和空間上跟蹤感興趣的生物目標(biāo)，同時(shí)將外部擾動(dòng)降至最低？

與標(biāo)準(zhǔn)共聚焦成像以及傳統(tǒng)gated STED方法相比，TauSTED顯著提高了分辨率，從而大大降低了激發(fā)光和STED光的劑量。

TauSTED Xtend進(jìn)一步提高了可達(dá)到的最大分辨率，即使在STED損耗光強(qiáng)較低時(shí)也能顯示明確的信號(hào)。